GB/T 19803-2005 无损检测 射线照相像质计 原则与标识
作者:标准资料网 时间:2024-05-15 12:11:45 浏览:9929
来源:标准资料网
基本信息
| 标准名称： | 无损检测 射线照相像质计 原则与标识 |
| 英文名称： | Non-destructive—Radiographic image quality indicatiors—Principles and identification |
| 中标分类： |
机械 >>
机械综合 >>
基础标准与通用方法 |
| ICS分类： |
试验 >>
无损检测
|
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检验总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2005-06-08 |
| 实施日期： | 2005-12-01 |
| 首发日期： | 2005-06-08 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 国家标准化管理委员会 |
| 提出单位： | 中国机械工业联合会 |
| 归口单位： | 全国无损检测标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 上海材料研究所、浙江省缪云像质计厂 |
| 起草人： | 金宇飞、毖中玉、柳章龙 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2005-12-01 |
| 页数： | 16开， 页数：6， 字数：8千字 |
| 计划单号： | 20021008-T-604 |
| 书号： | 155066.1-26516 |
适用范围
本标准规定了无损检测射线照相用像质计的特性，规定了像质计的标识符号。本标准是建立在钢的射线照相经验基础上的，但仍试图推广应用于所有金属。对于特殊材料(如铝及其合金)，可发布补充性的标准。
前言
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引用标准
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所属分类： 机械 机械综合 基础标准与通用方法 试验 无损检测
【英文标准名称】:Doors-Behaviourbetweentwodifferentclimates-Testmethod;GermanversionEN1121:2000
【原文标准名称】:门.两种不同气候间的状态.试验方法
【标准号】:DINEN1121-2000
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2000-09
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:湿度影响;元部件;挠曲;曲率;门扉;气候试验;气候荷载;建筑系统构件;建筑;气候;试验;耐气候性试验;门;特性;潮气
【英文主题词】:
【摘要】:Thedocumentspecifiesthemethodtobeusedfortestingdoorleavesanddoorsetsbetweentwodifferentclimates.Thetestiscarriedoutbysubjectingthedoorstotwodifferentclimatesoneithersideforaperiodoftime,andmeasuringtheresultingbowofthelongitudinallocksideedgeatstagesofthetest.Ifrequired,theoperatingforcesandtheairpermeabilityofthedoorsintheirdeformedstatearealsodetermined.
【中国标准分类号】:Q70
【国际标准分类号】:91_060_50
【页数】:12P;A4
【正文语种】:德语
Product Code:SAE J1113/11
Title:Immunity to Conducted Transients on Power Leads
Issuing Committee:Electromagnetic Compatibility (Emc) Standards
Scope: ScopeThis SAE Standard defines methods and apparatus to evaluate electronic devices for immunity to potentialinterference from conducted transients along battery feed or switched ignition inputs. Test apparatus specifications outlined in this procedure were developed for component installed in vehicles with 12 V systems (passenger cars and light trucks, 12 V heavy-duty trucks, and vehicles with 24 V systems). Presently, it is not intended for use on other input/output (I/O) lines of the device under test (DUT).
